ARL3460 直读光谱描迹的具体步骤 ARL3460 直读光谱描迹的具体步骤 好多人不知道直读光谱描迹的具体步骤， 大家以 ARL3460 为例看看， 其他型号的可能做法不同， 先看看这个吧。 ARL 直读光谱仪是很稳定的仪器， 迹线漂移很慢很慢， 但受外因的影响， 如温度的急剧变化， 振动等等， 会发生微小的变化。 因此就需要用户通过你自己的情况定时进行描迹检查。 元素的描迹检查元素出射狭缝与入射狭缝的相对机械位置， 入射狭缝是用户仪器上所设置的全部元素（通道） 所共用的。 入射狭缝的位置由扫描刻度盘的刻度来给出。 描迹检查所用样品要求被检查的元素含量适...
ARL3460 直读光谱描迹的具体步骤 ARL3460 直读光谱描迹的具体步骤 好多人不知道直读光谱描迹的具体步骤， 大家以 ARL3460 为例看看， 其他型号的可能做法不同， 先看看这个吧。 ARL 直读光谱仪是很稳定的仪器， 迹线漂移很慢很慢， 但受外因的影响， 如温度的急剧变化， 振动等等， 会发生微小的变化。 因此就需要用户通过你自己的情况定时进行描迹检查。 元素的描迹检查元素出射狭缝与入射狭缝的相对机械位置， 入射狭缝是用户仪器上所设置的全部元素（通道） 所共用的。 入射狭缝的位置由扫描刻度盘的刻度来给出。 描迹检查所用样品要求被检查的元素含量适中。 狭缝定位有直接定位（Direct Profile） 和积分定位（Integrated profile） 两种方法， 正常的情况下选用积分定位（Integrated profile） 。 在 WinOE 主界面下点击InitialisationIntegrated profile, 如图 1 所示。 进入积分定位的菜单， 如图 2 所示。
